產品介紹
工業相機
SWIR / UV / POL相機
- SWIR 波長可達 1,700 nm
- UV 波長範圍從 200 nm 開始
- 同一感測器可拍攝 SWIR 和可見光波長（VIS）
- 高量子效率與靈敏度
- 測量偏振角度
- 分別測量水平與垂直偏振的強度
- 經驗證的工業機器視覺設計
- 支援 GenICam 與 GenTL 介面
- 提供 GigE Vision、10GigE、CoaXPress-12 或 USB3 Vision 等介面
超越肉眼所見
SWIR 短波紅外線 / UV 紫外線 / POL 偏振相機
擴增知覺
SVS-Vistek 此類相機能夠讓肉眼不可見光變得可見，使得視覺系統可處理的影像範圍涵蓋從紅外線到紫外線波長或偏振光平面。
看見並測量不可見光
紅外線到紫外線的波長範圍能夠用於顯現肉眼不可見的記號或辨識材料等更多應用。
而光的特性，例如偏振則能夠在許多工業應用中對非金屬材料進行檢測。SVS-Vistek 提供高靈敏度的相機，適用於技術和生物領域的應用。
SWIR
SVS-Vistek 的 EXO 和 FXO 系列 SWIR 相機採用 SONY SenSWIR 感測器，
並提供卓越的性能與光學精度可滿足最嚴苛的工業應用需求
SWIR 相機基於 Sony SenSWIR 感測器技術與我們經驗證之 EXO 和 FXO 相機設計
寬廣的波長範圍和高靈敏度使得它們能夠在可見光到 SWIR 範圍 (400-1700nm) 提供極其精巧的解決方案
創新的熱設計是卓越光學品質與出色動態範圍的基礎，內建的 4 通道閃光燈控制器更適合複雜的分析應用
Sony SenSWIR 感測器，具備 400 – 1700 nm 的光譜靈敏度與高量子效率
- 先進雙點 NUC（非均勻性校正）
- CoaXPress-12 可提供最低延遲與最高速度
- 10GigE 則提供經濟的頻寬與整合容易度
- 支援 LUT、Binning、ROI、突發模式
- 相機運行溫度可高達 60°C
- 工業用 TTL-24V I/O 介面，SafeTrigger、邏輯功能、可程式化序列器與計時器，支援 RS232 介面，電氣與光學輸入，並支持 GenICam 和 GenTL
注意: 本產品受出口管制，須提供用途及終端使用者資訊(EUC) 等書面資料！
應用領域
400-1700 nm 的廣波長範圍使得應用範圍十分廣泛
在此波長範圍內許多物質可根據其吸收特性進行識別
典型的應用場景包括太陽能與電子產業（矽檢測）、製藥業（物質或雜質檢測）或食品生產（檢測水果、腐爛、壓痕）等
SWIR 也適合用於檢測水或水蒸氣以及漏液（油/水區分）
多通道閃光燈控制器特別適用於控制特定波長之光源進行物質檢測
紫外線
無論是品管、材料分析還是科學研究，紫外線技術將為您開創新的可能性並提升生產效率
SVS-Vistek 紫外線相機以經驗證的 FXO 系列設計為基礎
高速 CoaXPress-12 介面在觸發延遲、影格速率及穩定的資料傳輸速率方面有著卓越的性能
10GigE 介面則是一種經濟且高度穩定的選擇，特別適合長距離資料傳輸
所使用的 Sony Pregius 紫外線感測器具有高解析度、高動態範圍，並且在 200-400 nm 波長範圍內具備高靈敏度
電壓訊號、溫度耐性、I/O 控制及內建的閃光燈控制器、韌體功能專為嚴苛的工業環境而設計
技術特點：
- GenICam 3.0 軟體介面，支援 GenTL
- CoaXPress-12 單通道或 10GigE介面
- 支援 LUT、Binning、ROI
- 電氣與光學輸入
- 運行溫度可高達 60°C
- 工業用 TTL-24V I/O 介面、SafeTrigger、邏輯功能、可程式化序列器與計時器，並具備 RS232 介面以及內建 4 通道閃光燈控制器
應用領域
紫外線相機非常適合高速材料分揀，尤其是複雜的回收材料分離
更可用於生物環境，例如螢光分析、植物監測以及食品檢測
紫外線相機也可詳細檢查玻璃、珠寶和液體
其他應用領域則包括半導體產業和晶圓處理，以及高壓電纜的監測
偏振相機
SVS-Vistek 的偏振工業相機在工業影像處理領域樹立新標竿，
其具備過濾反射光之特殊能力使得隱藏的細節變得可見
偏振相機以其特殊的影像感測器可測量人眼無法看見的光線偏振性，並從單一影像中即可確定偏振度和偏振平面
其高解析度、光學動態範圍及影格速率，即使對於移動中的物體依然能夠進行詳細的結構分析
儘管其採用之感測器較為特殊，EXO 偏振相機在應用上仍像其他工業相機一樣能搭配標準鏡頭使用
內建的 4 通道閃光燈控制器更可用於複雜的照明場景
技術特點：
- 支援 LUT、ROI、突發模式
- 電氣與光學輸入
- 運行溫度可高達 60°C
- 內建 4 通道閃光燈控制器
- 工業用 TTL-24V I/O 介面、SafeTrigger、邏輯功能、可程式化序列器與計時器及 RS232 介面
應用領域
偏振濾鏡能有效減少非金屬表面的干擾反射，讓機器檢測更準確可靠（反射減少）
測量非金屬表面的偏振特性可用來分析表面的結構和均勻性
（例如碳纖維檢測、刮痕檢測、輪胎檢測）
對於部分透明材料的機械應力分析也變得非常容易實現