最新消息
最新消息
高速大面積解決方案！
發佈日期：2018-11-12
Bonito PRO NIR X-2620 + KVM series 鏡頭
高速大面積解決方案！
Bonito PRO兼具2620萬的高畫素與80fps的取像速度，搭配不同倍率的KVM系列鏡頭，能符合多種視野範圍需求，取得低失真、高精度的影像。與一般相機相比，能提供更高速、更大面積的視覺解決方案，是縮短產品檢測週期(cycle time)的不二首選！
適用於PCB、Wafer、LCD、LED、顯示器等不同檢測應用中。
適用於PCB、Wafer、LCD、LED、顯示器等不同檢測應用中。
產品優勢
AVT—Bonito PRO
- 高解析度: 1250萬畫素、2620萬畫素
- 高速取像: 142fps、80fps
- 黑白、彩色、黑白+NIR強化等多種CMOS Sensor可選擇
- 泛用的CXP高速介面
- 支援PoCXP供電
Tokina—KVM series
- 支援大尺Sensor，成像圈可達82mm
- 可搭配E2V、DALSA的16K Line scan線掃描相機
- 多種光學倍率: 0.12x~4x
- 低失真度: 0.1%以下
- 高抗震度: 採用特殊的螺絲與機構設計，適合工業使用
- V-mount, 可透過轉接環支援F,M72,M95等不同接口
應用範圍
PCB檢測
PCB inspection
PCB inspection
Wafer檢測
Wafer inspection
Wafer inspection
LCD面板檢測
LCD panel inspection
LCD panel inspection
LED檢測
LED inspection
LED inspection
彩色CCD感測器
Color CCD sensor
Color CCD sensor
彩色TFT顯示器
Color TFT display
Color TFT display