最新消息

最新消息

AI深度學習 x 半導體AOI檢測 @ 國際半導體展 (9/5-7)


AI深度學習 x 半導體AOI檢測

2018 半導體展攤位號碼:N884
 

 

  AI 深度學習專區
即時瑕疵檢測系統
自動化
光學檢測
  半導體檢測專區
高速高精度取像系統、晶圓檢測、表面溫度檢測
  3D檢測專區
白光干涉連接器檢測、單點式彩色共焦玻璃量測
 

 

  智慧製造專區
三軸精密餵料 / 定位系統、高速錄放影系統
 
歡迎蒞臨國際半導體展的碁仕科技攤位 (N884),親自體驗:
  • SuaKIT深度學習軟體的AI即時瑕疵檢測
  • Xenics紅外線相機的晶圓與表面溫度監控
  • Allied Vision BonitoPRO高速高精度影像擷取
  • Heliotis白光干涉透明連接器檢測
  • Precitec單點式彩色共焦玻璃厚度量測
  • Asyril機器手臂專用三軸精密振動系統