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1奈米的精密量測

 
1奈米的精密量測
 
HeliInspect H8 系列是3D面掃描的白光干涉儀(White Light Interferometer),可量測透明與高反光物體,並達成垂直精度1nm的精密量測!HeliInspect H8 採用獨家 heliSens S4H FPGA晶片,內含特殊演算法,比起傳統白光干涉儀的掃描速度快40倍,應用於半導體、電子、連接器、金屬等不同產業。
 
產品優勢
  • 獨家專利FPGA晶片,搭配演算法,快速達成精密量測
  • 高科技白光干涉技術,透明反光都不怕
  • 放大倍率 2x - 100x,多種選擇任君挑選
  • 完整 SDK,支援 C++ / LabVIEW / python / Halcon
 
技術原理
HeliInspect H8 使用專利FPGA晶片,讓每個像素 (pixel) 都有運算能力,並應用獨家演算法,相比他牌白光干涉儀,大幅提高資料準確度與傳輸速度,又快又準!

 
主要應用
表面平整度
物體幾何形體
表面瑕疵
表面粗糙度